TIMA-X 是一款自動化礦物分析系統(tǒng)，可用于如巖石、礦石、精礦、尾礦、浸出渣或冶煉產(chǎn)品等的快速定量分析。

TIMA-X 結(jié)合 BSE 和 EDS 分析來鑒別礦物，獲得礦物圖像。通過分析圖像可確定礦物質(zhì)濃度、元素分布及礦物質(zhì)特性，如晶粒尺寸、結(jié)合形式、解離和包裹程度。TIMA-X 也可用于鑒別明亮相中是否含有鉑族金屬、金、銀、稀土和其它礦物質(zhì)。

TIMA-X 最多可安裝四個 EDAX 硅漂移能譜探頭，配合新型軟件，顯著提高了分析性能和可靠性。新型能譜探頭提高了輕元素探測靈敏度，并在高計數(shù)率下具有穩(wěn)定的能量分辨率。能譜探頭可由 TIMA 操作系統(tǒng)和 EDAX 的能譜定量分析軟件控制，用戶既可體驗 TIMA-X 超高的工作效率，也可進(jìn)行定量分析。TIMA-X 軟件有很多獨特的功能，包括新一代的礦物鑒定工具，以及采用的像素分析算法實現(xiàn)較低元素含量的檢測。

TIMA-X 可以裝配 AutoLoader?自動進(jìn)樣系統(tǒng)，可實現(xiàn) 24 小時全天候無人值守檢測樣品，進(jìn)樣數(shù)量為 2 到 100 個環(huán)氧樹脂塊。 AutoLoader? 自動進(jìn)樣系統(tǒng)消除了手動更換樣品及手動樣品倉抽真空的操作，將礦物檢測從批量處理變成了連續(xù)的過程，顯著提高生產(chǎn)效率。

獨特功能

? X 射線采集和電子束掃描系統(tǒng)完全集成于一體
? AutoLoader? 可實現(xiàn) 7 天 * 24 小時無間斷、無值守自動化操作，適用于大量樣品分析
? 低計數(shù)率下，更低的檢測限
? 可直接進(jìn)行定量能譜分析
? 簡化礦物分類流程的工作流和工具
? 交互式測試驗證和研究工具

硬件突出特點

? TIMA-X 基于TESCAN MIRA 肖特基場發(fā)射掃描電鏡或VEGA 鎢燈絲掃描電鏡平臺
? 最多能集成 4 個 EDS 探測器，使系統(tǒng)的高通量性能最大化
? 采用新一代 Peltier 冷卻 SDD 探測器
? 使用新型 30 mm2 SDD CMOS真空封裝芯片
? Si3N4陶瓷窗口，堅硬、無孔、透射率高
? 配備功能齊全的標(biāo)準(zhǔn) EDS 定量分析