為了提高生產(chǎn)車間內(nèi)微電子元器件的篩查效率，Sonoscan 專門(mén)設(shè)計(jì)了Fastline? P300? 超聲波掃描顯微鏡。作為超聲顯微成像技術(shù)的新平臺(tái)，F(xiàn)astline的緊湊設(shè)計(jì)縮小了占地空間，其獨(dú)特的輸送系統(tǒng)能夠在掃描一個(gè)JEDEC托盤(pán)或樣品盤(pán)的同時(shí)將下一次要掃描的樣品放在水中的另一個(gè)托盤(pán)上等到掃描。

Fastline? P300?特色：

獨(dú)特輸送系統(tǒng)有助于實(shí)現(xiàn)產(chǎn)量的提高
精確定位，更快掃描及自動(dòng)化分析
運(yùn)用Visual PolyGate? 技術(shù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)易快捷的多層深度掃描
多語(yǔ)種操作系統(tǒng)及直觀的操作界面
人體工程學(xué)設(shè)計(jì)以提高操作者的舒適度和工作效率
占地面積小，適宜在車間使用

C-SAM 杰出的超聲顯微成像技術(shù)

超聲顯微技術(shù)的杰出之處在于它能夠在組件和材料中找出可能在生產(chǎn)或可靠性試驗(yàn)中出現(xiàn)的隱藏的缺陷。

不同于X射線和紅外成像等其他無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，超聲顯微成像技術(shù)則是利用超聲波對(duì)材料彈性特性較為敏感的特性。超聲波可能會(huì)因?yàn)榻佑|物質(zhì)的改變而被吸收、散射或反射，而且對(duì)空氣間隙特別敏感。

Sonscan? 提供多種成像模式，操作員可以根據(jù)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征選擇適當(dāng)?shù)某上穹绞揭垣@得有關(guān)檢驗(yàn)樣品的掃描圖像。此外，通過(guò)利用我們的專有的先進(jìn)功能，Sonscan可以提供高清晰的圖像、高效率和良好的檢測(cè)結(jié)果。

Sonscan的C-SAM成像技術(shù)用于發(fā)現(xiàn)及分析在生產(chǎn)過(guò)程或可靠性測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷。比起其他檢測(cè)方法，使用超聲顯微成像方法更能有效地識(shí)別并分析脫層、空洞及裂縫等缺陷。